Shenzhen Baiqiancheng Electronic Co., Ltd
+86-755-86152095

Analiżi tal-porzjon tal-PCB

Aug 13, 2025

  • Prinċipji tal-Analiżi tal-PCB Slice

L-esperimenti ta' analiżi tal-biċċiet tipikament jinvolvu t-tħin u l-illustrar tal-wiċċ tal-kampjun tat-test, jew l-użu ta' metodi bħall-illustrar kimiku u l-illustrar elettrokimiku, biex tinkiseb finitura qisha mera-scratch-ħielsa. Sussegwentement, tintuża soluzzjoni speċifika ta 'inċiżjoni għall-inċiżjoni. Materjali differenti, jew l-istess materjal f'direzzjonijiet differenti, jissaddad fi gradi differenti, jiżvelaw karatteristiċi varji u jiffurmaw anisotropija. Fl-aħħar nett, l-osservazzjoni bl-użu ta' strumenti bħal mikroskopji elettroniċi tipprovdi informazzjoni strutturali aktar dettaljata u b'riżoluzzjoni għolja-.

 

  • Metodi ta 'Analiżi tal-PCB Slice

L-analiżi tal-qatgħat hija komunement kategorizzata fi tqattigħ lonġitudinali u orizzontali. It-tqattigħ lonġitudinali jinvolvi l-qtugħ tal-PCB vertikalment, li jippermetti l-kejl tal-ħxuna f'saffi differenti u juri b'mod ċar l-integrità tal-komponenti elettroniċi u l-konnessjonijiet bejn is-saffi. It-tqattigħ orizzontali jinvolvi qtugħ orizzontalment, saff b'saff, biex josservaw il-konnessjonijiet interni u ċ-ċirkwiti f'kull saff tal-PCB.

L-analiżi tal-biċċiet tal-PCB tipprovdi fehim aktar profond tal-mikrostruttura u l-karatteristiċi tal-prestazzjoni tal-PCB, ittejjeb aktar il-kwalità, l-affidabbiltà u d-durabilità tal-prodotti elettroniċi.

 

  • Għodod ta' Osservazzjoni Essenzjali għall-Analiżi ta' -Sezzjoni Trasversali tal-PCB: Mikroskopji

Mikroskopji ottiċi huma komunement użati għall-analiżi u spezzjoni tas-sezzjoni trasversali tal-PCB, primarjament għal analiżi bażika bħall-osservazzjoni tal-istruttura ġenerali tal-kampjun, ġonot tal-istann, u ċirkwiti stampati. Mikroskopji metallografiċi jistgħu jintużaw għal-analiżi fil-fond tal-mikrostruttura metallografika u t-tranżizzjonijiet tal-fażi.
Mikroskopji ottiċi jistgħu jipprovdu ingrandimenti ta 'madwar 10-2000x. Għal kampjuni saħansitra iżgħar, huwa meħtieġ tagħmir aktar avvanzat, bħal mikroskopji elettroniċi tal-iskannjar.